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TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀
簡(jiǎn)要描述:

TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀測(cè)試頻率:10Hz-30MHz,基本阻抗精度:0.08%,典型值≤±0.045%,高精度:采用自動(dòng)平衡電橋技術(shù),四端對(duì)測(cè)試配置,
高穩(wěn)定性和一致性.儀器采用當(dāng)前國(guó)際的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器,為國(guó)產(chǎn)阻抗測(cè)試儀器受廣大客戶青睞的一款產(chǎn)品。

更新時(shí)間:2024-07-01

訪問量:178

TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀簡(jiǎn)介:

TH2851系列阻抗分析儀是常州同惠電子采用當(dāng)前自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器,為國(guó)產(chǎn)阻抗測(cè)試儀器的最新高度。基于Windows10操作系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了全電腦化操作界面,讓測(cè)試更智能、更簡(jiǎn)便。

TH2851系列阻抗分析儀也超越了國(guó)外同類儀器120MHz的頻率瓶頸;解決了國(guó)外同類儀器只能分析、無(wú)法單獨(dú)測(cè)試的缺陷;中英文操作界面也解決了國(guó)外儀器僅有英文界面的尷尬;采用單測(cè)和分析兩種界面,讓測(cè)試更簡(jiǎn)單。

快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度、及高達(dá)40MΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響,將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

TH2851系列阻抗分析儀包括以下幾種類型:

簡(jiǎn)要參數(shù)

TH2851-015

TH2851-030

TH2851-050

TH2851-080

TH2851-130

測(cè)試頻率

10Hz-15MHz

10Hz-30MHz

10Hz-50MHz

10Hz-80MHz

10Hz-130MHz

基本精度

0.08%

AC信號(hào)源

電壓

5mVrms - 2Vrms

電流

200μA - 20mArms

DC偏置

電壓

0V - ±40V

電流

0mA—±100mA



性能特點(diǎn)

測(cè)試頻率:10Hz-30MHz

基本阻抗精度:0.08%,典型值≤±0.045%

高精度:采用自動(dòng)平衡電橋技術(shù),四端對(duì)測(cè)試配置

高穩(wěn)定性和一致性

高速度:最快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度

高分辨:10.1英寸電容式觸摸屏,分辨率1280*800

點(diǎn)測(cè)、列表掃描、圖形掃描、等效電路、晶體振蕩器分析五種測(cè)試方式

1601點(diǎn)多參數(shù)列表掃描功能

四參數(shù)測(cè)量

自動(dòng)電平控制(ALC)功能

4通道圖形掃描功能,每通道可顯示4條曲線,通道和曲線有

14種分屏顯示方式

分析功能:等效電路分析、晶體振蕩器分析、壓電分析、

曲線軌跡對(duì)比、介電常數(shù)分析(選件)、磁導(dǎo)率分析(選件)

強(qiáng)大的分選:LCR模式10檔分選

圖形掃描模式每條曲線單獨(dú)分選,頻率分段掃描并分選

高兼容性:支持SCPI指令集,兼容KEYSIGHT E4990A

E4980A、E4980AL、HP4284A

應(yīng)用

無(wú)源元件:

電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。

半導(dǎo)體元件:

LED驅(qū)動(dòng)集成電路寄生參數(shù)測(cè)試分析;變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

其它元件:

印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等阻抗評(píng)估

介質(zhì)材料:

塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估

磁性材料:

鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估

半導(dǎo)體材料:

半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性

液晶單元:

介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

  • 技術(shù)參數(shù)

  • 產(chǎn)品型號(hào)

    TH2851-015

    TH2851-030

    TH2851-050

    TH2851-080

    TH2851-130

    顯示

    10.1英寸TFT LCD顯示器1280×RGB×800,電容式觸摸屏

    AC測(cè)量參數(shù)

    Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、復(fù)數(shù)Z|Z|、復(fù)數(shù)Y、|Y|R、X、GB、θ、D、Q、VAC、IAC

    DC測(cè)量參數(shù)

    VDCIDC、DCR

    測(cè)試頻率

    范圍

    10Hz - 15MHz

    10Hz - 30MHz

    10Hz - 50MHz

    10Hz - 80MHz

    10Hz - 130MHz

    最高分辨率

    1mHz

    頻率相對(duì)誤差

    ≤±0.0007%

    測(cè)試電平

    AC電壓

    5mV - 2Vrms

    分辨率

    1mV

    AC電流

    50μA - 20mArms

    分辨率

    10μA

    DC偏置

    電壓

    0V - ±40V

    電壓分辨率

    1mV

    電流

    0mA - ±100mA

    電流分辨率

    40μA

    測(cè)試端配置

    四端對(duì)

    輸出阻抗

    25Ω/100Ω

    典型測(cè)量時(shí)間(速度)

    五檔:1(快速) - 5(精確)

    1:2.5ms       2:10ms     3:40ms     4:80ms      5:400ms

    (不包括通訊時(shí)間的算數(shù)平均值,每個(gè)頻率測(cè)試速度會(huì)略有不同)

    最高準(zhǔn)確度

    1kHz0.08%

    1MHz0.08%

    2MHz0.5%

    10MHz1%

    130MHz5.0%

    測(cè)量顯示范圍

    a   1×10-18;  E   1×1018

    Cs、Cp

    ±1.00000   aF - 999.999 EF

    Ls、Lp

    ±1.00000   aH - 999.999 EH

    D

    ±0.00001   - 9.99999

    Q

    ±0.01   - 9999.99

    R、RsRp、X、Z

    ±1.00000   aΩ - 999.999 EΩ

    GB、Y

    ±1.   00000 aS -  999.999 ES

    Vdc

    ±1.00000   aV - 999.999 EV

    Idc

    ±1.00000   aA - 999.999 EA

    θr

    ±1.00000   a rad - 3.14159 rad

    θd

    ±0.0001   deg - 180.000 deg

    Δ%

    ±0.0001%   - 999.999%

    多功能參數(shù)列表掃描

    1601點(diǎn),每個(gè)點(diǎn)可設(shè)置平均數(shù),每個(gè)點(diǎn)可單獨(dú)分選

    掃描參數(shù):測(cè)量參數(shù)、測(cè)試頻率、AC電壓、AC電流、DC BIAS電壓、DC BIAS電流

    圖形掃描

    參數(shù)

    頻率、ACV、ACI、DCVDCI

    類型

    對(duì)數(shù)、線性、頻率分段

    點(diǎn)數(shù)

    2-1601

    通道數(shù)

    4

    曲線數(shù)

    4/通道

    分屏顯示

    16種(通道和曲線)

    等效電路分析

    3元件模型:4個(gè)、4元件模型:3個(gè)

    晶體振蕩器分析

    曲線軌跡比對(duì)

    分選

    LCR模式10檔分選;掃描模式每條曲線單獨(dú)分選

    接口

    RS232C,USB   HOSTUSB   DEVICE、LANGPIB、HANDLERVGA、HDMI

    開機(jī)預(yù)熱時(shí)間

    60分鐘

    輸入電壓

    100-120VAC/198-242VAC可選擇,47-63Hz

    功耗

    最大150VA

    尺寸(WxHxDmm3

    428x220x325

    重量

    14.5kg


  • 附件

  • 標(biāo)配
    配件名稱型號(hào)



    夾具TH26047



    四端帶卡夾具TH26005D



    100Ω標(biāo)準(zhǔn)電阻TH26082A



    短路片TH26010



    TH2851校準(zhǔn)套件TH2851校準(zhǔn)套件



    選配
    配件名稱型號(hào)



    磁環(huán)夾具(片式)TH26007A



    磁環(huán)夾具TH26008A



    帶盒貼片測(cè)試線TH26009B



    夾具TH26048



    測(cè)試夾具TH26062A



    測(cè)試夾具TH26063



    高頻貼片夾具TH26108C



    電介質(zhì)測(cè)試夾具TH26077



    TH2851-7mm夾具TH26086



    TH2851磁導(dǎo)率測(cè)試夾具TH26088



    TH2851-7mm夾具-校準(zhǔn)套件TH26086-CAL



  • A.  高精度

        寬帶自動(dòng)調(diào)零型自動(dòng)平衡電橋技術(shù)的應(yīng)用,得以在10Hz-130MHz頻率、25mΩ-40MΩ的阻抗范圍內(nèi)都能達(dá)到理想的10%測(cè)量精度,其中最高精度達(dá)0.08%,遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于射頻反射測(cè)量法的阻抗分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀的精度。

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    B.  高穩(wěn)定性和高一致性

         下圖是在速度5、測(cè)試頻率1MHz,測(cè)量100Ω電阻的曲線,由下圖可見其軌跡噪聲≦0.003%(≦±0.0015Ω)

          TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    C.  高速度

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    D. 10.1寸大屏,四種測(cè)量參數(shù),讓細(xì)節(jié)一覽無(wú)遺

         10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率,Windows10系統(tǒng)、中英文操作界面,支持鍵盤、鼠標(biāo)、LAN、VGA/HDMI接口,帶來的是無(wú)以倫比的操作便捷性。

         大屏幕帶來更多的好處是,可以把所有測(cè)試參數(shù)及分選參數(shù)、分選結(jié)果、功能選擇等參數(shù)放置在同一屏幕,而且看起來絕不擁擠和雜亂,同時(shí)可以顯示四種測(cè)量參數(shù),四種測(cè)量參數(shù)任意可調(diào)。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測(cè)試參數(shù)

              TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    E.  增強(qiáng)的列表掃描功能

         可以最多設(shè)置1601點(diǎn)的列表掃描,每個(gè)點(diǎn)可以單獨(dú)設(shè)置測(cè)試頻率、測(cè)試電壓、直流偏置等測(cè)試條件。

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    F.  強(qiáng)大的分析圖形界面

    最多可以4通道同時(shí)顯示,每個(gè)通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    通道

    顯示窗口

    單個(gè)窗口可以設(shè)置不同掃描條件

    每個(gè)窗口可以設(shè)置4條曲線

    曲線

    測(cè)量參數(shù)

    G.  分段掃描功能

          分段掃描是在一個(gè)掃描周期內(nèi),設(shè)置不同的頻率分段進(jìn)行掃描,掃描時(shí)可設(shè)置不同的電平及偏置,掃描結(jié)果直接圖形顯示,用于需要快速篩選多個(gè)頻率段參數(shù)的掃描需求。

       如晶體諧振器需要測(cè)試標(biāo)稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率,通過分段掃描功能可在特定頻率范圍內(nèi)掃描測(cè)量,無(wú)需掃描不相關(guān)頻率

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    H.  強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力

    TH2851系列精密阻抗分析儀具有強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力,可以通過光標(biāo)實(shí)現(xiàn)如下功能:

    1. 讀取測(cè)量結(jié)果的數(shù)值(作為絕對(duì)數(shù)值或者相對(duì)于參考點(diǎn)的相對(duì)值)

    2. 查找曲線上的特定點(diǎn)(光標(biāo)查找)

    3. 分析曲線測(cè)量結(jié)果,計(jì)算統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)

    4. 使用光標(biāo)值修改掃描范圍以及縱坐標(biāo)縮放

    TH2851 可以在每條曲線上顯示10個(gè)光標(biāo),包括了參考光標(biāo)。

    每個(gè)光標(biāo)有一個(gè)激勵(lì)值(坐標(biāo)系X軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值)和響應(yīng)值(坐標(biāo)系Y軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值)。

    光標(biāo)查找功能允許搜索下列條件測(cè)量點(diǎn):



    最大值、最小值

    峰谷值:

    峰值(極大值)、谷值(極小值)、光標(biāo)左側(cè)最近的峰谷值、光標(biāo)右側(cè)最近的峰谷值、多重峰谷值

    目標(biāo)值:

    距離光標(biāo)最近的目標(biāo)值、光標(biāo)左側(cè)最近的目標(biāo)值、光標(biāo)右側(cè)最近的目標(biāo)值、多重目標(biāo)值

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    I.  強(qiáng)大的圖形分析功能

    1)    曲線分選功能

             可以對(duì)掃描曲線全部或者部分區(qū)域的測(cè)試值進(jìn)行合格/不合格判斷,常用于諧振曲線篩選如壓電元件等諧振頻率。

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    2)    等效電路分析測(cè)試

        現(xiàn)實(shí)生活中不同類型的器件可以被等效成簡(jiǎn)單的三參數(shù)四種模型、四參數(shù)三種模型的阻抗器件,等效電路分析測(cè)試功能提供了7種基本的電路模型用于等效 這些器件。

            可以通過仿真的等效電路參數(shù)值的阻抗擬合曲線與實(shí)際測(cè)量的阻抗曲線進(jìn)行對(duì)比,還可以通過您輸入的參數(shù)按照所選擇的模型進(jìn)行擬合。

        等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶保存使用

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    3)    晶體振蕩器分析(壓電器件分析)

             對(duì)晶體振蕩器進(jìn)行測(cè)量以及性能分析,測(cè)量計(jì)算后獲取晶體的諧振頻率、反諧振頻率、品質(zhì)因數(shù)等重要參數(shù)。

         同時(shí),對(duì)于其他壓電器件如壓電陶瓷濾波器、壓電陶瓷陷波器、壓電陶瓷鑒頻器、壓電陶瓷變壓器、大功率超聲波發(fā)生器、換能器(振子)、聲表面波器件、電聲器件等都可以測(cè)試如靜態(tài)電容、損耗、諧振頻率、反諧振頻率、機(jī)械耦合系數(shù)等參數(shù)。

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    4)    曲線軌跡對(duì)比


    曲線軌跡對(duì)比用于對(duì)被測(cè)件進(jìn)行連續(xù)測(cè)量,所有曲線顯示在同一個(gè)坐標(biāo)系中。由下列兩種應(yīng)用:

    a)    針對(duì)多種不同被測(cè)件

          對(duì)比不同測(cè)量條件下的曲線軌跡

          設(shè)置不同的頻率點(diǎn),計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值

    b)    針對(duì)同一個(gè)被測(cè)件

          對(duì)比同一個(gè)條件下測(cè)量的多次測(cè)量結(jié)果重復(fù)性

          設(shè)置不同頻率點(diǎn),計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    J.  介電常數(shù)分析(選件)

         TH2851系列精密阻抗分析儀支持介質(zhì)材料介電常數(shù)、介質(zhì)損耗分析,需選購(gòu)測(cè)試夾具及分析軟件。

    1. 配置

    序號(hào)

    型號(hào)

    名稱

    必選項(xiàng)

    1

    TH2851_***

    阻抗分析儀主機(jī)

    R

    2

    TH26077

    介質(zhì)材料測(cè)試夾具

    R

    3

    TH2851  

    介電常數(shù)測(cè)試軟件

    R


    2. TH26077介質(zhì)材料測(cè)試夾具

        TH26077電介質(zhì)材料測(cè)試夾具是設(shè)計(jì)在TH2851上進(jìn)行準(zhǔn)確的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)量的夾具。通過使用平行板方法測(cè)量固態(tài)材料的介電常數(shù),從而消除離散電容。

    1) 外形結(jié)構(gòu)

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    2) 基本參數(shù)

    測(cè)試頻率

    DC-30MHz

    測(cè)量參數(shù)

    電容(C)、耗損因數(shù)(D)、介電常數(shù)(εr', εr'')

    測(cè)試電極

    電極種類

    被測(cè)材料直徑

    被測(cè)材料厚度

    屏蔽電極A1

    40mm - 56mm

    ≤10mm

    屏蔽電極A2

    10mm - 56mm

    ≤10mm

    測(cè)試原理

    平行板測(cè)量法

    清零

    開路、短路

    3) 測(cè)試原理

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀


    4) 介電常數(shù)公式

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    3.   介電常數(shù)分析軟件

     該軟件為選件,開通后在TH2851界面直接選擇對(duì)應(yīng)的參數(shù)即可,分別可以單測(cè)、列表掃描、曲線掃描,下圖為曲線掃描界面。

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    K.  磁導(dǎo)率分析


          TH2851支持磁性材料磁導(dǎo)率測(cè)試,在主機(jī)的基礎(chǔ)上,需選配測(cè)試夾具及磁導(dǎo)率分析軟件,具體配置如下:

    1. 配置

    序號(hào)

    型號(hào)

    名稱

    必選項(xiàng)

    1

    TH2851

    阻抗分析儀主機(jī)

    R

    2

    TH26086

    測(cè)試夾具底座

    R

    3

    TH26088

    磁導(dǎo)率測(cè)試夾具

    R

    4

    TH2851磁導(dǎo)率測(cè)試軟件


    R

    5

    TH26086-CAL

    夾具校準(zhǔn)套件

    R

    2. 測(cè)試夾具

    1)TH26086轉(zhuǎn)接底座

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀


          用于將4端對(duì)轉(zhuǎn)換成N型7mm底座,適配其他測(cè)試夾具如TH26088磁導(dǎo)率測(cè)試夾具。

          TH26086為必選項(xiàng),若未選購(gòu),TH26088將無(wú)法正確測(cè)量。

          技術(shù)參數(shù)


    測(cè)試頻率

    DC - 130MHz

    最高電壓

    ±42V 峰值(AC+DC)

    工作溫度

    0°C - 40°C


    2)TH26088磁導(dǎo)率測(cè)試夾具

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

          TH26088可精確測(cè)量環(huán)形磁性材料的磁導(dǎo)率。由于該夾具的結(jié)構(gòu)是環(huán)形線圈繞一圈(無(wú)漏磁),因此不需要繞環(huán)形線圈的導(dǎo)線,而且允許廣泛的頻率覆蓋。 它配有一個(gè)小型和一個(gè)大型夾具,適應(yīng)各種尺寸,是測(cè)量磁性材料的理想結(jié)構(gòu)。

          技術(shù)參數(shù)


    測(cè)試頻率

    1kHz - 1GHz

    樣本尺寸

    高度h

    內(nèi)徑范圍b(直徑)

    外徑范圍c(直徑)

    小型部件用

    ≤ 3 mm

    ≥ 3.1 mm

    ≤ 8 mm

    大型部件用

    ≤ 8.5 mm

    ≥ 5 mm

    ≤ 20 mm


    3. 測(cè)試原理

    1) 磁導(dǎo)率基本概念

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    2) 有效磁導(dǎo)率 TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

         采用電感測(cè)量法測(cè)量,在環(huán)形磁芯的磁芯上纏繞導(dǎo)線,并放置在一個(gè)密閉的圓柱形空間內(nèi)(TH26088夾具),通過阻抗分析儀測(cè)量導(dǎo)線兩端的電感(自感),根據(jù)測(cè)試電感量及下列公式推導(dǎo)出有效磁導(dǎo)率。

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    3) 相對(duì)導(dǎo)磁率                                                  

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    4.  磁導(dǎo)率分析軟件(選件)

         選擇開通磁導(dǎo)率分析軟件之后,儀器便可以在單測(cè)、列表掃描、曲線掃描中直接選擇磁導(dǎo)率參數(shù),直接在界面顯示測(cè)試結(jié)果


    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀


    L.  標(biāo)配附件

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

    M.  選配附件

    TH2851-030阻抗測(cè)試儀/阻抗分析儀

  • 應(yīng)用





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